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西安電子科技大學(xué)與重慶郵電大學(xué)---采用 Ga?O?/NiO 異質(zhì)結(jié)的高性能全柵極光電晶體管,用于高級紫外線檢測

由重慶郵電大學(xué)的研究團隊在學(xué)術(shù)期刊 Applied Optics 發(fā)布了一篇名為 High-performance gate-all-around phototransistor with a Ga2O3/NiO heterojunction for advanced ultraviolet detection(采用 Ga2O3/NiO 異質(zhì)結(jié)的高性能全柵極光電晶體管,用于高級紫外線檢測)的文章。

1. 項目支持

中國博士后科學(xué)基金(2023M742732);國家資助博士后研究人員計劃(GZC20241303);中央高校基本科研業(yè)務(wù)費(XJSJ24100);國家自然科學(xué)基金(62404176)。

2. 背景

日盲紫外探測在環(huán)境監(jiān)測、火焰探測、導(dǎo)彈追蹤等領(lǐng)域具有重要應(yīng)用價值,因其能消除自然背景光的干擾。這類應(yīng)用對探測器提出了高靈敏度、低噪聲和快速響應(yīng)的要求。傳統(tǒng)用于日盲探測的寬禁帶半導(dǎo)體材料(如 AlGaN, ZnMgO)存在生長溫度高、材料摻雜困難或穩(wěn)定性差等問題;其他材料(如 GaN, 金剛石)則受限于帶隙寬度或大面積制備困難。氧化鎵(Ga2O3)因其超寬帶隙(~4.9 eV)、優(yōu)異的熱穩(wěn)定性和可獲得大尺寸本征襯底等優(yōu)勢,成為日盲紫外探測器的理想候選材料。盡管已開發(fā)了多種結(jié)構(gòu)的 Ga2O3 基探測器,但在同時實現(xiàn)高靈敏度、低暗電流和快速響應(yīng)方面仍面臨挑戰(zhàn),主要受限于材料界面質(zhì)量和器件結(jié)構(gòu)優(yōu)化。環(huán)柵晶體管結(jié)構(gòu)因其卓越的靜電控制能力和抑制短溝道效應(yīng)的潛力,為高性能光電探測器提供了一個有前景的平臺。然而,傳統(tǒng) GAA 器件可能存在界面不佳和內(nèi)建電場不足的問題,限制了光生載流子的分離效率和暗電流的抑制。

3. 主要內(nèi)容

氧化鎵(Ga2O3)具有 4.9 eV 的超寬禁帶、出色的熱穩(wěn)定性以及大尺寸本征襯底的可得性,是用于日盲紫外(UV)檢測的理想材料。在該研究中,研究團隊展示了一種基于 p-NiO/n-Ga2O3 異質(zhì)結(jié)的高性能全柵(GAA)光電晶體管,專門設(shè)計用于先進的 UV 檢測應(yīng)用。將 p-NiO 用作柵極材料,提供了強大的內(nèi)建電場,顯著改善了載流子分離,抑制了暗電流,并提高了整體光響應(yīng)。所構(gòu)建的 GAA 光電晶體管表現(xiàn)出卓越的光電性能,包括 8.64 × 106 A/W 的響應(yīng)度、4.23 × 109% 的外量子效率、9.92 × 1019 Jones 的探測率以及 5 µs 的上升/下降時間。全面的模擬和實驗分析表明,性能的提升源于 NiO/Ga2O3 界面處有利的 II 型能帶排列,這促進了高效的光生載流子生成和傳輸。這項工作不僅為開發(fā)高靈敏度和快速響應(yīng)的紫外光探測器開辟了道路,也為環(huán)境監(jiān)測、太空探索和其他關(guān)鍵應(yīng)用中的日盲光電子學(xué)的進一步發(fā)展奠定了基礎(chǔ)。

4. 總結(jié)

采用 NiO/Ga2O3 異質(zhì)結(jié)和 GAA 結(jié)構(gòu)開發(fā)的紫外光電晶體管通過將 p-NiO 用作柵極電介質(zhì)實現(xiàn)了卓越的性能。該器件表現(xiàn)出出色的光電特性,包括超高的 R 值 8.64 × 106 A/W、PDCR 值 3.66 × 108%、EQE 值 4.23 × 109% 以及 D* 值 9.92 × 1019 Jones。此外,它還展現(xiàn)出 5 µs 的快速上升和衰減時間,并且在 254 nm 光照下具有出色的可靠性。這些卓越的性能指標(biāo)主要歸因于 NiO/Ga2O3 界面處有利的 II 型能帶排列,這有助于實現(xiàn)高效的載流子分離和傳輸。該光電晶體管還具有約 10-15 A 的超低暗電流,因此在檢測微弱光線方面具有高靈敏度。這項工作極大地推動了高靈敏度、日盲紫外光探測器領(lǐng)域的發(fā)展,并為環(huán)境監(jiān)測、太空探索和先進傳感技術(shù)等光電設(shè)備應(yīng)用的未來創(chuàng)新奠定了堅實的基礎(chǔ)。

圖 1. 提出的器件結(jié)構(gòu)的三維示意圖和截面圖(a)、(c)IS-HJ;(b)、(d)PN-HJ。

圖 2. IS-HJ (a)、(c) 和 PN-HJ (b)、(d) 在黑暗條件下光電探測器的電子濃度分布,以及在照明(Pin = 1 µW/cm2,無偏壓)條件下光生成的電子濃度分布。

DOI:

doi.org/10.1364/AO.551210

本文轉(zhuǎn)發(fā)自《亞洲氧化鎵聯(lián)盟》訂閱號